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            新啟航半導體有限公司


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            11
            2026
            -
            05
            銅箔粗糙度直接決定 PCB 蝕刻難易程度|激光顯微鏡 VS ...
            引言銅箔是PCB(印刷電路板)制造的核心基材,其表面粗糙度直接決定蝕刻工藝的難易程度、蝕刻精度及成品合格率。蝕刻過程中,粗糙度過高易導致蝕刻不均、線條殘留,過低...
            銅箔粗糙度直接決定 PCB 蝕刻難易程度|激光顯微鏡 VS 白光干涉儀
            11
            2026
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            05
            白光干涉劃線輪廓測量,抑制鈣鈦礦電池漏電、降低串聯(lián)電阻
            1 鈣鈦礦電池劃線輪廓質量對漏電與串聯(lián)電阻的影響鈣鈦礦電池模組制備核心工序中,激光劃線刻蝕是實現(xiàn)電池單元精準分割、層間電路串聯(lián)互聯(lián)的關鍵工藝,劃線溝槽的輪廓規(guī)整...
            白光干涉劃線輪廓測量,抑制鈣鈦礦電池漏電、降低串聯(lián)電阻
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            2026
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            CMP拋光前后,晶圓表面粗糙度白光干涉測量方案
            1 引言化學機械拋光(CMP)是半導體晶圓制程中核心平坦化工藝,拋光前后晶圓表面微觀粗糙度直接影響后續(xù)光刻、鍍膜等工序良率,是管控制程精度的關鍵指標。傳統(tǒng)接觸式...
            CMP拋光前后,晶圓表面粗糙度白光干涉測量方案
            09
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            05
            Smr/Smr1/Smr2 支承長度率解讀,白光干涉儀粗糙度...
            引言在精密機械配合、液壓密封結構、齒輪傳動及耐磨零部件加工領域,工件表面不僅需要控制基礎高低起伏粗糙度,更需精準把控微觀表面實體接觸承載能力。傳統(tǒng)高度類粗糙度參...
            Smr/Smr1/Smr2 支承長度率解讀,白光干涉儀粗糙度測量
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