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                • 新啟航半導(dǎo)體有限公司


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                  05
                  銅箔粗糙度直接決定 PCB 蝕刻難易程度|激光顯微鏡 VS ...
                  引言銅箔是PCB(印刷電路板)制造的核心基材,其表面粗糙度直接決定蝕刻工藝的難易程度、蝕刻精度及成品合格率。蝕刻過程中,粗糙度過高易導(dǎo)致蝕刻不均、線條殘留,過低...
                  銅箔粗糙度直接決定 PCB 蝕刻難易程度|激光顯微鏡 VS 白光干涉儀
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                  2026
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                  白光干涉劃線輪廓測量,抑制鈣鈦礦電池漏電、降低串聯(lián)電阻
                  1 鈣鈦礦電池劃線輪廓質(zhì)量對漏電與串聯(lián)電阻的影響鈣鈦礦電池模組制備核心工序中,激光劃線刻蝕是實現(xiàn)電池單元精準(zhǔn)分割、層間電路串聯(lián)互聯(lián)的關(guān)鍵工藝,劃線溝槽的輪廓規(guī)整...
                  白光干涉劃線輪廓測量,抑制鈣鈦礦電池漏電、降低串聯(lián)電阻
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                  CMP拋光前后,晶圓表面粗糙度白光干涉測量方案
                  1 引言化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)是半導(dǎo)體晶圓制程中核心平坦化工藝,拋光前后晶圓表面微觀粗糙度直接影響后續(xù)光刻、鍍膜等工序良率,是管控制程精度的關(guān)鍵指標(biāo)。傳統(tǒng)接觸式...
                  CMP拋光前后,晶圓表面粗糙度白光干涉測量方案
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                  Smr/Smr1/Smr2 支承長度率解讀,白光干涉儀粗糙度...
                  引言在精密機(jī)械配合、液壓密封結(jié)構(gòu)、齒輪傳動及耐磨零部件加工領(lǐng)域,工件表面不僅需要控制基礎(chǔ)高低起伏粗糙度,更需精準(zhǔn)把控微觀表面實體接觸承載能力。傳統(tǒng)高度類粗糙度參...
                  Smr/Smr1/Smr2 支承長度率解讀,白光干涉儀粗糙度測量
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