摘要

強腐蝕介質閥門廣泛應用于化工、冶金等領域，其密封面長期接觸酸堿、鹽霧等腐蝕性介質，平面度易受腐蝕、磨損影響出現偏差，引發介質泄漏、設備故障等隱患。傳統檢測方法難以適配腐蝕工況的高精度、無損傷檢測需求，白光干涉測量技術憑借非接觸、納米級精度、抗腐蝕干擾的優勢，可精準捕捉密封面平面度缺陷。本文結合測量原理與試驗流程，探討該技術在強腐蝕介質閥門密封面檢測中的應用，為閥門質量管控提供技術支撐。

關鍵詞

強腐蝕介質閥門；密封面；平面度；白光干涉測量；腐蝕工況

1 引言

強腐蝕介質工況下，閥門密封面易受介質侵蝕、電化學腐蝕影響，產生點蝕、磨損、形變等缺陷，破壞平面度精度，導致密封失效。傳統接觸式檢測易損傷腐蝕后的密封面，且精度不足，無法排查細微平面度缺陷。白光干涉測量可實現無損傷、高精度檢測，能有效適配腐蝕工況，解決傳統檢測痛點，對保障強腐蝕介質閥門安全穩定運行具有重要意義。

2 白光干涉測量原理與試驗設計

白光干涉測量基于邁克爾遜干涉原理，以寬譜白光為光源，經分光鏡拆分測量光與參考光，兩束反射光匯聚形成高對比度干涉條紋，解析條紋信息可重構密封面三維輪廓，精準計算平面度誤差。試驗選取典型強腐蝕介質閥門樣本，模擬實際腐蝕工況，通過白光干涉測量量化密封面平面度指標，分析腐蝕作用對平面度精度的影響規律。

3 測量過程與精度控制

測量前清潔密封面腐蝕殘留物，避免雜質影響測量結果；將閥門固定于專用檢測平臺，校準干涉儀光路與參數，確保測量光垂直入射密封面。啟動測量后，儀器自動采集干涉圖像與數據，解析平面度誤差，定位密封面腐蝕缺陷與平面度偏差。同時控制測量環境，減少腐蝕介質殘留對測量精度的干擾，保障檢測數據可靠。

4 測量優勢與應用價值

該測量方法非接觸、無損傷，可避免腐蝕后密封面的二次損傷；納米級精度能捕捉細微平面度缺陷與腐蝕痕跡，抗腐蝕干擾能力強，適配強腐蝕工況檢測。其應用可有效排查強腐蝕介質閥門密封面隱患，規范質檢流程，提升閥門密封可靠性，避免介質泄漏風險，保障化工、冶金等領域生產安全。

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