白光干涉測量在超臨界 CO?設備密封平面度檢測中的應用
發布時間:
2026-05-18
作者:
新啟航半導體有限公司

引言

超臨界CO?設備作為能源、化工領域的核心裝備,其密封性能直接決定設備運行安全性與穩定性。密封端面的平面度是影響密封效果的關鍵指標,超臨界工況下的高溫、高壓及介質腐蝕性,易導致密封端面出現平面度偏差,引發泄漏隱患。傳統測量技術精度有限,難以滿足密封端面精密檢測需求,白光干涉測量憑借非接觸、高精度的優勢,成為超臨界CO?設備密封平面度檢測的優選技術,具有重要工程應用價值。

白光干涉測量技術原理

本次檢測采用的白光干涉測量技術基于邁克爾遜干涉原理,以寬光譜白光為測量光源。光束經分光鏡分為測量光與參考光,測量光投射至超臨界CO?設備密封端面,反射光與參考光匯聚形成干涉條紋。通過采集干涉信號,可重構密封端面三維形貌,精準捕捉微觀平面度缺陷,垂直分辨率達亞納米級,且非接觸測量方式可避免損傷精密密封端面,適配密封件檢測需求。

測量實驗與應用實踐

實驗選取超臨界CO?設備常用硬質合金密封端面為檢測對象,嚴格遵循相關行業檢測標準開展實驗。實驗前對密封端面進行清潔處理,去除介質殘留與氧化層,調節測量系統參數確保檢測精度。測量結果顯示,該技術測量誤差控制在3nm以內,可清晰識別密封端面微小平面度偏差,為密封件質量管控、故障排查提供精準量化數據,有效適配超臨界工況的嚴苛檢測要求。

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多功能面型干涉儀——大視野平面度/納米精密測量設備

單臺設備搞定全維度精密測量,一站式覆蓋微納級平面度、深孔臺階、陡峭錐面角度及3D輪廓檢測,高效適配各種硬密封零部件測量需求。



四大核心技術革新,突破行業測量瓶頸

一鍵自動掃描:徹底破解傳統光學測量在高精度工況下“深度受限、視野偏小”的行業痛點,全面兼容平面度、臺階高度、多面平行度、錐孔等多維度精密測量需求,適配噴油嘴核心部位檢測。

白光干涉測量在超臨界 CO?設備密封平面度檢測中的應用

(實測噴油器密封端面 平面度變形 0.35um)


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白光干涉測量在超臨界 CO?設備密封平面度檢測中的應用

多臺階面平行度測量能力,市面上非常多的面型干涉儀,局限于單一平面的平面度測量,無法實現多臺階的平面一體化分析。我們解決了70mm臺階測量能力,重復精度滿足5nm再現性。

白光干涉測量在超臨界 CO?設備密封平面度檢測中的應用


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自動化批量測量模式:單幅視野可達23×18mm,支持最大200mm視野全自動跑點測量,大幅提升批量檢測效率;針對更大視野、更高精度的定制化需求,可提供專屬非標解決方案,靈活適配不同生產場景。


白光干涉測量在超臨界 CO?設備密封平面度檢測中的應用

深錐孔角度精準測量:打破傳統面型測量儀功能單一的局限,在保障微納級平面度測量精度的基礎上,同步實現陡峭錐面、深錐孔角度的精準檢測,適用場景更廣泛,檢測能力更全面。


白光干涉測量在超臨界 CO?設備密封平面度檢測中的應用

上下平面平行度專屬檢測:采用獨特光路設計,可實現非/透明產品的厚度與上下平面平行度同步測量,無需額外設備,簡化檢測流程,提升檢測效率。


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