• 公司新聞
• 行業動態
• 企業黨建

15

2026

-

05

鏡筒定位面平面度與鏡片間隔精度的白光干涉測量應用

摘要鏡筒定位面平面度與鏡片間隔精度是決定光學系統成像質量的核心參數，二者偏差易導致光軸偏移、成像模糊等問題。白光干涉測量技術具備非接觸、納米級精度優勢，可實現兩...

14

2026

-

05

度的像質影響機理

摘要鏡筒定位面平面度偏差會通過鏡片裝配偏差誘發光學系統像質劣化，明確其影響機理是提升光學系統性能的關鍵。白光干涉測量技術憑借非接觸、納米級精度優勢，可精準表征定...

14

2026

-

05

鏡筒定位面平面度對光軸同軸度的白光干涉測量分析

摘要光軸同軸度是光學系統精準成像的核心保障，鏡筒定位面平面度偏差易導致鏡片裝配傾斜，進而破壞光軸同軸度。白光干涉測量技術具備非接觸、納米級精度優勢，可精準表征鏡...

14

2026

-

05

機械硬盤磁頭飛行高度管控，盤片平面度精準測量方案

引言機械硬盤作為數據存儲核心設備，磁頭飛行高度的穩定性直接決定存儲精度與設備壽命，而盤片平面度是管控磁頭飛行高度的關鍵前提。盤片平面度若存在偏差，會導致磁頭飛行...

• 共40頁
• 首頁
• 上一頁
• ...
• 10
• 11
• 12
• 13
• 14
• 15
• 16
• 17
• 18
• 19
• ...
• 下一頁
• 尾頁